X射線熒光光譜法測(cè)試會(huì)受哪方面的影響嗎?
X射線熒光光譜法測(cè)試會(huì)受哪方面的影響嗎?,首先,被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)所含元素組成和含量有較大差異,被測(cè)樣品表面有鍍層或經(jīng)化學(xué)處理,測(cè)量時(shí)間,樣品的形狀,樣品測(cè)量的面積。制樣的好壞、標(biāo)準(zhǔn)曲線、參照標(biāo)準(zhǔn)、軟件補(bǔ)償、X射線熒光光譜儀種類(lèi):波長(zhǎng)或能量...