USB應(yīng)用中的電磁兼容保護(hù)設(shè)計(jì)

USB端口對(duì)PC外設(shè)的發(fā)展起到了革命性的推動(dòng)作用，并且正變得越來越流行，比如在采集測量數(shù)據(jù)或在機(jī)器上安裝軟件更新等應(yīng)用中就非常常見。作為用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊环N總線系統(tǒng)，只要有移動(dòng)設(shè)備連著的地方就有它的身影。雖然在日常生活中使用的連接器看起來非常結(jié)實(shí)，但USB應(yīng)用開發(fā)人員仍然必須重視這些接口的保護(hù)。

在Intel公司的“高速USB平臺(tái)設(shè)計(jì)指南"中，甚至提高了考慮USB端口易感性因素的重要性。Intel建議用電流補(bǔ)償型扼流圈抑制EMI，再用其它元件防止靜電放電(ESD)。電子設(shè)備經(jīng)常會(huì)遭受靜電放電。靜電放電脈沖電壓可能高達(dá)30kV，因此對(duì)所有類型的集成電路來說都是非常危險(xiǎn)的。目前有些IC對(duì)靜電放電來說是“安全的"，但這種安全性只是對(duì)一小部分潛在威脅來說是有保證的。日常操作表明：額外保護(hù)是的。只有采取外部保護(hù)措施才能開發(fā)出整塊電路板不受靜電放電影響以及高度可靠的產(chǎn)品。專門的抑制措施同樣也是必需的。無線聯(lián)網(wǎng)的電子設(shè)備如今是遍地開花，它們的數(shù)量正在與日俱增。

使自己的產(chǎn)品不受輻射干擾的影響非常重要。只有考慮了預(yù)期的干擾形式，才能在設(shè)計(jì)中及時(shí)集成必要的抑制元件，進(jìn)而縮短開發(fā)周期。我們知道，自身產(chǎn)品的輻射型干擾也必須處于某個(gè)電平之下。這可以通過EMC測試實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行很精確的評(píng)估。如果產(chǎn)品沒有通過這種測試，那么立馬返工的成本將超過抑制元件成本的好幾倍。